答:在芯片还未经分割的wafer阶段,在测试时当然要把DC test, Function test……等完成。如果是OTP型式的芯片还需把烧code工作也一并解决。切割后就处理困难了!ProbeTester其实分两部份,Probe(针压)是机械部份,有位置对准和芯片排测功能。可把芯片上各端口引出至后部的Tester,Tester基本上是个特别配套的计算机装置,经编写不同的测试程序便可测试不同的芯片。
答:在芯片还未经分割的wafer阶段,在测试时当然要把DC test, Function test……等完成。如果是OTP型式的芯片还需把烧code工作也一并解决。切割后就处理困难了!ProbeTester其实分两部份,Probe(针压)是机械部份,有位置对准和芯片排测功能。可把芯片上各端口引出至后部的Tester,Tester基本上是个特别配套的计算机装置,经编写不同的测试程序便可测试不同的芯片。
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