在一个由MCU的产品中，开发完成，批量生产时，需要测试。然而，测试员可能不能测试到软件的每一处。在写程序时，做一个专门的测试流程，在某种条件满足时（比如几个键盘的同时按下），进入测试程序。测试程序中用一些比较短的时间来工作。如何实现？
答：以HOLTEK IC生产厂商的角度来看，对于一个MCU成品，一旦它的外围器件连接OK，它的MCU芯片基本逻辑功能运行正常，此MCU成品基本上就是良品了。因为IC在出厂前，都经过了逻辑、烧写测试，所以发给客户的封装片都是合格的。客户生产时所产生的不良片，大多数是I/O遭到破坏造成的（例如ESD破坏、高电压破坏），如果IC的I/O逻辑功能运行正常就说明此IC可以运行 任何程序，并不需要测试到软件的每一处才能保证MCU成品的良率。因此您的测试方法已经可以保证IC的良率了。
