STM32F407 模拟IIC AT24C16出坑记录

事情经过:有个项目一个模拟IIC上挂了3个外设,其中一个为AT24C02,模拟IIC用的是原子的。这种模式下使用完全没有问题,直到项目需要更换AT24C16。。。第一次找了两个供应商打样了一批AT24C16的IC卡,直接替换没有问题,认为方案替换没有问题。问题在于,当供应商批量供货的时候,懵了,全部不能读写,但是这些卡在另外的(程序一样就是主控芯片和电路不一样)一个读卡设备上却是可以的。

分析过程:

一、供应商确认前后两批AT24C16的卡都是同一个型号,就是批次不一样。???批次出问题了?但为什么同样程序的另外的卡设备可以读,是这个读卡设备的电路更稳定?那好,把不能读的设备电路改成可以读的设备一样,懵。。。 也是不行。这时怀疑的方向是这两个设备的主控芯片不一样,模拟IIC的IO初始化方式会不会不一样和是不是IIC挂的设备太多导致的。

二、基于上面一,脱离自己的产品,用原子的F407开发板试,把板载的AT24C02焊掉,把IIC飞行连接第一批AT24C16和批量的AT24C16,懵。。。 第一批的依旧可以,批量的依旧不行。。。。

陷入深深的迷惑中。。。,上逻辑分析仪、示波器、看芯片资料、问度娘。。。。反反复复的试,结果得出如下魔幻解决方案:

1、SDA SCL IO口要分开初始化 而且SDA要设置为开漏输出

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